LXI-64路DI接口测试设备
LXI-64路DI接口测试设备SA9L0106是一款基于LXI总线的DI输入设备, 采用ARM+FPGA架构,搭载Linux嵌入式系统,可独立工作。模块由64路输入通道组成,模块每个通道均为独立光电耦合器,通道耐压值5V/28V可选,最大电流15mA。该终端与主机接口为LXI总线接口,便于分布式部署,可缩短部署周期、减少部署成本;两个SA9L0106终端可快速组合,满足标准1U上架要求,可用于各类电子设备和系统的工作状态和开关状态检测。
LXI-64路DI接口测试设备SA9L0106是一款基于LXI总线的DI输入设备, 采用ARM+FPGA架构,搭载Linux嵌入式系统,可独立工作。模块由64路输入通道组成,模块每个通道均为独立光电耦合器,通道耐压值5V/28V可选,最大电流15mA。该终端与主机接口为LXI总线接口,便于分布式部署,可缩短部署周期、减少部署成本;两个SA9L0106终端可快速组合,满足标准1U上架要求,可用于各类电子设备和系统的工作状态和开关状态检测。
产品详情
产品特点
(1)全产业链自主可控
基础硬件+嵌入式软件+逻辑均为自主研发,上游器件及原材料具备稳定可控的供应链渠道。
(2)支持分布式部署
智测终端基于LAN总线标准,具备以太网接口,可快速与网络交换机连接,实现跨区域组网和分布式测试。
(3)快速可重构架构
采用主板+子板模块化组合模式,主板为CBB产品,可搭载不同子板快速形成不同终端产品。
(5)系统稳定可靠
产品经过90天稳定性测试,经过高低温试验,可在-20℃~60℃温度范围内稳定工作,具有过流、过压、接地保护功能。
(6)测试吞吐率高
基于千兆以太网,测试吞吐率可达600Mbps。
技术规格
| 组件/类别 | 描述 |
|---|---|
| 架构 | ARM+FPGA |
| 内存 | 8Gb |
| 总线 | LXI (千兆网) |
| 产品接口 功能描述 | 1)通道数:64路; 2)最大输入范围:5V、28V可选; 3)5V输入,高电平:3.5V~5V;低电平:0V~1.5V; 4) 28V输入,高电平:15V~28V;低电平:0V~12V; 5) 输入阻抗:5.36KΩ/1.78KΩ; 6)光耦隔离; 7)网络接口,设备自带系统; 8)提供Windows下驱动软件以及演示软件; |
| 结构尺寸 | 220 宽 × 42.5 高 × 225 深(单位:mm)1U半宽,可选机架安装方式。 |
| 接口型号 | SCSI68 Female |
| 供电 | +12V/0.7A |
| 工作温度 | -15℃~55℃ |
| 系统 | Linux嵌入式系统 |
可定制选项
| 可定制项 | 供货周期 | |
|---|---|---|
| 通道数 | 8路 | 2~4周 |
| 16路 | ||
| 32路 | ||
| 48路 | ||
| 最大输入范围 | 12V/24V | |
节点定义
| 连接器编号 | 节点号 | 定义(测试模块端) | 节点号 | 定义(测试模块端) |
|---|---|---|---|---|
| X1 | 1 | DI_27 | 35 | DI_24 |
| 2 | DI_31 | 36 | DI_30 | |
| 3 | DI_04 | 37 | DI_49 | |
| 4 | DI_26 | 38 | DI_29 | |
| 5 | DI_05 | 39 | DI_03 | |
| 6 | DI_48 | 40 | DI_00 | |
| 7 | DI_01 | 41 | DI_02 | |
| 8 | DI_07 | 42 | DI_25 | |
| 9 | DI_38 | 43 | DI_59 | |
| 10 | DI_54 | 44 | DI_51 | |
| 11 | DI_37 | 45 | DI_12 | |
| 12 | DI_52 | 46 | DI_06 | |
| 13 | DI_33 | 47 | DI_09 | |
| 14 | DI_53 | 48 | DI_28 | |
| 15 | DI_10 | 49 | DI_35 | |
| 16 | DI_50 | 50 | DI_55 | |
| 17 | DI_COM0 | 51 | DI_COM2 | |
| 18 | DI_56 | 52 | DI_36 | |
| 19 | DI_17 | 53 | DI_42 | |
| 20 | DI_13 | 54 | DI_34 | |
| 21 | DI_61 | 55 | DI_43 | |
| 22 | DI_32 | 56 | DI_39 | |
| 23 | DI_58 | 57 | DI_15 | |
| 24 | DI_08 | 58 | DI_11 | |
| 25 | DI_41 | 59 | DI_57 | |
| 26 | DI_46 | 60 | DI_62 | |
| 27 | DI_63 | 61 | DI_20 | |
| 28 | DI_47 | 62 | DI_40 | |
| 29 | DI_22 | 63 | DI_21 | |
| 30 | DI_14 | 64 | DI_60 | |
| 31 | DI_19 | 65 | DI_23 | |
| 32 | DI_44 | 66 | DI_16 | |
| 33 | DI_18 | 67 | DI_45 | |
| 34 | DI_COM1 | 68 | DI_COM3 |
应用领域
- 航空航天
- 工业控制
- 智能制造
- 汽车电子
应用场景
航空航天:整星综合测试、弹载设备综合自动化测试、星载设备自动化测试、箭载设备自动化测试、机载设备自动化测试、实验室调测等。
工业控制:电机状态检测、控制器检测等。
智能制造:产线过程检测、产品下线检测等。
汽车电子:域控制器测试、ABS电接口测试、BMS仿真测试等。
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